一：X荧光元素分析仪的性能特点： 1、高效超薄窗X光管，指标达到标准水平。
2、新的数字多道技术，让测试更快，计数率达到标准值CPS，精度更高。在合金检测中效果更好。
3、SDD硅漂移探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
4、低能X射线激发待测元素，对Si、P等轻元素激发效果好。
5、智能抽真空系统，屏蔽空气的影响，大幅扩展测试的范围。
6、自动稳谱装置保证了仪器工作的一致性。
7、高信噪比的电子线路单元。
8、针对不同样品自动切换准直器和滤光片，免去手工操作带来的繁琐。
9、解谱技术使谱峰分解，使被测元素的测试结果具有相等的分析精度。
9、多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制。
10、内置高清晰摄像头。
11、液晶屏显示让仪器的重要参数（管压、管流、真空度）一目了然。
以上是小编为大家讲解的产品性能特点，那么小编接下来进一步讲解主要特点有哪些？
1、快速扫描测量
通过提升微小区域的测量灵敏度以及配合了高速电动平台，可快速获得二维元素扫描图像。特别是强化了对线路板中铅的扫描测量能力，配备了铅扫描的滤波器。
2、快速测量微小区域的微量金属
通过所配备的高密度微小X射线束和高计数率检测器，以及充分考虑到X射线荧光检测效率的设计，实现了测量的高灵敏度。可短时间测量微小区域的微量金属或薄膜。
3、无需液氮的高计数率检测器
标准配备了精工纳米独自研发设计无需液氮的高计数率检测器。免去了繁琐的液氮补给过程。开机时间也仅为短短数分钟，电子冷却系统更是值得信赖。减少了液氮在制造、运输时产生的二氧化碳的排放，同时因为高效率的检测速度而减少了电力的消耗。
以上就是小编为大家介绍的X荧光元素分析仪全部内容，希望对大家有所帮助。
