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发布日期:2025/6/5
有效日期:2025/12/5
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gy-c型颗粒密度测定装置颗粒密度测定装置可产生高度真空的试验环境,与分析天平和其它配套仪器配合使用,用于测量各种粒度普通磨料、超硬磨料的颗粒密度,也适用于其它颗粒状材料的颗粒密度测量。该装置性能稳定,可以同时对多个样品进行测量。
gy-c型颗粒密度测定装置
技术参数: 1. 真空度:-0.1MP(开机30分钟后测量) 2. 真空罩内径:φ220mm 3. 工作电压:AC380V;50Hz
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